薄膜材料检测实验室在武汉成立

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新华社武汉12月11日电(记者陈俊)中国科技人员在克服世界纳米薄膜材料检测难题方面取得了巨大成就。“湖北省功能薄膜材料物理性能检测技术工程实验室”近日在武汉成立。

随着新材料的开发和应用，纳米薄膜材料在许多领域得到了广泛的应用，但目前世界上还没有能够直接检测薄膜热特性的设备。1纳米仅仅是发丝直径的60000倍。如何检测薄膜的热特性已经成为一个国际问题。过去，在进行破坏性检测之前，必须将薄膜沉积得非常厚，然后刮掉薄膜以形成一定质量的粉末。

经过多年的技术突破，华中科技大学长江学者苗相水教授研制出了中国第一台光功率热分析仪，可检测厚度达5纳米的薄膜。根据介绍，光功率热分析仪将激光照射到纳米薄膜材料表面，通过反射光功率来检测薄膜的相变温度点和热膨胀系数。

作为我国第一个功能薄膜材料物理性能测试技术研究基地，省级工程实验室建成后，将建立5个垂直研究实验室，包括薄膜材料热分析、薄膜材料样品制备与加工、薄膜材料电磁分析、薄膜材料力学分析和薄膜材料光学分析。

清华大学教授、国家重点R&D项目专家组组长潘凤表示，薄膜材料是一种颠覆性技术，会阻碍全球科技进步。随着薄膜技术变得越来越薄，需要破坏性的测试设备。科技部已经为材料基因组学设立了一个重大研发项目，其中之一就是克服高通量的特征检测技术。湖北可以依靠薄膜检测研发的领先优势做出更大的科学贡献。